ASTM F 978-1990 用瞬变容量技术表征半导体低电平的试验方法

作者:标准资料网时间:2024-05-02 03:45:05 浏览:9858 来源:标准资料网

【英文标准名称】:TestMethodforCharacterizingSemiconductorDeepLevelsbyTransientCapacitanceTechniques
【原文标准名称】:用瞬变容量技术表征半导体低电平的试验方法
【标准号】:ASTMF978-1990
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1990
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子工程;特性;额定值;半导体器件;电子设备及元件;半导体;试验;瞬变反应
【英文主题词】:properties;electronicengineering;semiconductors;ratings;electronicequipmentandcomponents;testing;transcientresponse;semiconductordevices
【摘要】:
【中国标准分类号】:H80
【国际标准分类号】:29_040_30
【页数】:8P;A4
【正文语种】:英语

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