BS EN 2591-6415-2002 电气和光学连接元件.试验方法.光学元件.检测探针的损伤

作者:标准资料网 时间:2024-05-13 02:24:23  浏览:8756   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Elementsofelectricalandopticalconnection-Testmethods-Opticalelements-Testprobedamage
【原文标准名称】:电气和光学连接元件.试验方法.光学元件.检测探针的损伤
【标准号】:BSEN2591-6415-2002
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2002-01-10
【实施或试行日期】:2002-01-10
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:模数;试验条件;塞规;试验;损伤;电气元件;电的;光学元件;紧固件;电插头;电力设备;航空航天运输;航空运输;规范(验收);航天运输;光学的
【英文主题词】:Aerospacetransport;Airtransport;Damage;Electricplugs;Electrical;Electricalcomponents;Electricalinstallations;Fasteners;Modules;Multilingual;Optical;Opticalelements;Pluggauges;Spacetransport;Specification(approval);Testing;Testingconditions
【摘要】:TobereadinconjunctionwithEN2591-100
【中国标准分类号】:V25
【国际标准分类号】:49_060;49_090
【页数】:8P;A4
【正文语种】:英语